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개요
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MCIS-1800시리즈는
본사의
핵심기술이
집결된
최고의
Vision
Inspection
장비로
Micro
Component의
외관에
발생하는
다양한
불량
유형들에
대하여
고속/고정밀
및
높은
신뢰도를
보이는
고성능
장비
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특징
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▶
빠른
검사속도를
통한
높은
생산효율
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- 0603mm
:
1700~1800개/분(MCIS-1800N)
- 1005mm
:
1800~1900개/분
- 1608mm
:
1700~1800개/분
- 2012/3216mm
:
1400~1500개/분
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▶
고정밀/고성능
검사
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- 고해상도
카메라를
사용한
정밀
검사
가능
- 자체
개발
특수
검사
알고리즘
적용
- 4면
혹은
6면(MCIS-1800six)
모두
검사
가능,
4변
edge들과
Top,
Bottom의
6면도
가능
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▶
검사대상에
최적화된
구조
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- 검사
Chip에
최적화된
조명
개발
적용
- 제품
방향선별
필요시
특수한
Feeding
system
적용
- 2
near
size
Chip
겸용
가능
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▶
사용자
중심의
인터페이스
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- 쉬운
파라미터
설정
- 파라미터별
Teaching
Help
(한/중/일/영
4개국어)
지원
- 검사
History
저장
기능
지원
- 파라미터
설정값,
조명
설정값
Save
&
Load
가능
- 각종
레포트
기능
지원
- 결함
종류별
Sorting
가능
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▶
Compact한
장비
사이즈
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- 0603mm
장비
:
720*800*1700(W*L*H)
- 1005mm
이상
겸용
:
840*870*1750(W*L*H)
- 한대의
PC로
검사
수행
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▶
검사항목
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- Size
측정
:
Length,
Width,
Thickness,
Termination
bandwidth
등
- 바디결함
:
Chipping,
Crack,
내부전극노출,
Blister,
Burst,
핀
홀,
스크래치,
표면오염,
변색
등
- 전극결함
:
깨짐,
Miss-Plating,
핀
홀,
스크래치,
Smear,
Existence,
표면오염
등
- 결함이미지
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▶
MCIS-1800N의
새로운
점
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제품사진
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사양
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Items
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Specification
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검
사
능
력
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적용제품
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MLCC,
MLCI,
ChipR,
PTCC,
Varister,
thermistor,
Array
등
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칩사이즈
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0603,
1005,
1608,
2012,
3216,
4532mm
등
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검사항목
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칩사이즈,
전극사이즈,
크랙,
chipping,
이물,
변색,
마킹,
핀홀,
Spot
등
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검사면수
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2면/4면/6면
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Throughput
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0603mm
:
1700~1800개/분
1005mm
:
1800~1900개/분
1608mm
:
1700~1800개/분
2012/3216mm
:
1400~1500개/분
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정밀도
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고해상도.
최대
85개
이상의
파라미터가
1side에
적용됨
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|
하
드
웨
어
|
조명
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4~8채널
자동
제어
LED
조명모듈(1채널에
최대
4색
조명
사용가능)
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카메라
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Progressive
Area
Scan
CCD
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|
PC
|
Industrial
PC
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Hopper
|
2000cc
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Feeder
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Bowl
and
Linear
feeder
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배출부
|
정밀배출이
가능한
Air
system
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Chip
size
changeable
|
2
near
size
|
|
소
프
트
웨
어
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Calibration기능
|
Self
test
&
Setting
system
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검사기능
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Calibration,
Teaching
and
inspection.
1side에
최대
85개
이상의
파라미터
적용
히스토리
저장,
실시간
파라미터
수정
가능
SPC
리포트
기능
자동
조명
조절
&
조명세팅
저장
가능
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진단기능
|
검사
모니터링,
하드웨어
모니터링,
자가진단
기능
등
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