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개요
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RTS에서
개발한
MCIS-PRO
장비는
다년간에
연구개발과
Field에서
경험을
축척한
고속
외관
검사
장비이며
최고의
기구,
조명,
Software를
적용하여
분당
최대
3300개
이상
검사
할
수
있는
장비입니다.
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- 새로운
장비
디자인
- 신규
카메라
적용
- Semi-Automatic
Slide
side
door
- Automatic
Safety
Sensing
device
- 안정적인
이미지
처리를
위한
PC
2대
사용
- 향상된
제품
투입
속도
- Index
회전
유,무
확인
Sensor
- 빠르고
정확한
배출
능력
- Monitoring
System
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특징
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- 유리판
인덱스
방식
- Feeder를
이용한
제품
공급
- 불량
유형에
적합한
조명
설계
- 강력한
검사
알고리즘
- 정확한
양품,불량
배출
- 생산성
: 3000
EA/
Min(1005
기준)
(
Max
: 4000
EA/
Min)
- 신개념에
배출구와
Solenoid
채택
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내부구성
특징
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▶
Compact
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- Rotating
one
glass
table
- Each
one
good
,
bad,
retest
bin
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Flexible
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- Automatic
Calibration
of
Ejector
and
Camera
position
- Records
and
reports
pass/fail
result
for
review
- Programmable
Detection
Logic
- Functional
Parameter
Set-up
- Teaching
Help
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▶
User
Friendly
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- History
Running
Mode
:
4
sides
images
display
- Programmable(easy)
illumination
control
- Easy-to-operation
&
Easy-to-maintenances
- SPC
Mode
,
MISC
Mode
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▶
Application
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- MLCC, MLCI, Chip-R Array, Varistor, Antenna Chip, Coil- Inductor, LTCC, Chip-LED, Array, PTC, Filter,
Power-Inductor and Various Ceramic/Micro Components
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Inspects
"Micro"
sized
parts
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- 0603,
1005,
2012,
3216,...mm(0201,
0402,
0603,
0805,
1206,..inch)
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▶
High
Speed
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- Inspects
and
rejects
at
3000
chips/min.(3000
chips/min.
for
1005)
- 4
sides
inspection
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▶
Size
Changeable
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- Two
near
sizes
(1005/1608,
1608/2012,
2012/3216)
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검사항목
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- 사이즈검사
Length,
Width,
Thickness,
Termination
bandwidth
- Body검사
Chips,
Crack,
Internal
electrode
exposure,
Blister,
Burst,
Pin
Hole,
Scratches,
Surface
contamination,
Discoloratio
- 전극검사
Brokenness,
Miss-plating,
Holes,
Scratches,
Smears,
Existence,
Surface
contamination
- 불량
영상
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소프트웨어
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▶
고객중심의
Operation
배치
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- 프로그램에서
장비
제어
- 그래프
지원
기능
- Data
저장
기능
강화
- INI
File
메인화면에서
수정
가능
- 강력한
처리
속도
- High
Speed
Imaging
processing
- PC를
이용한
장비
제어
- 쉬운
파라미터
Setting
- Error
Message을
이용한
장비
상태
점검
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