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1) 国内特許
特許第0367865号
特許第402253号
特許第478448号
特許第478449号
特許第0484652号
特許第0484655号
特許第0504334号
特許第0504335号
特許第0517324号
特許第0547219号
特許第0552328号
特許第10_0569240号
特許第10_0591667号
特許第10_0624024号
特許第10_0624029号
特許第10_0636646号
特許第10_0636656号
特許 第10_0661911号
特許 第10_0691433号
特許 第10_0691455号
特許 第10_0713799号
特許 第10_0713801号
特許 第10_0768120号
特許 第10_0768122号
特許 第10_0768123号
特許 第10_0783595号
2) 国際特許
特許第268352号
第 0533683 号
第 0533684 号
第 0533685 号
第 0545539 号
第 40_0681804号
第 40_0681809号
第 40_0732377号
韓国
2003-23600
連続映像取得を利用した電子部品検査装置及び方法
2031-04-15
2004-46524
電子部品検査装置
2004-06-22
2004-46525
バックライト照明器具及びこれを利用した検査装置
10-2005-0079910
液晶表示装置の輝度補正装置
2005-08-30
