HOME > 製品紹介 > 専用検査装備 > Micro Chip Inspection System > MCIS - 1800 シリーズ

概要

 

MCIS-1800シリーズは弊社の核心技術が集結された最高のVision Inspection装備としてMicro Componentの外観に発生する多様な不良に対して高速/高精密及び高い信頼性を見せる高性能装備である

 

特徴点

早い検査速度を通じる高い生産效率

  • 0603mm : 1700~1800個/分(MCIS-1800N)
  • 1005mm : 1800~1900個/分
  • 1608mm : 1700~1800個/分
  • 2012/3216mm : 1400~1500個/分

高精密/高性能検査

  • 高解像度カメラを使った精密検査可能
  • 自社開発の特殊検査アルゴリズム適用
  • 4面あるいは6面(MCIS-1800six)両方検査可能, 4edgesとTop, Bottomの6面も可能

検査対象に最適化された構造

  • 検査Chipに最適化された照明開発適用
  • 製品方向選別必要の時、特殊なFeeding system適用
  • 2 near size Chip兼用可能

使用者中心のインタフェース

  • 易しいパラメーター設定
  • パラメーター別Teaching Help (韓/中/日/英4カ国語)支援
  • 検査History保存機能の支援
  • パラメーター設定値、照明設定値Save & Load可能
  • 各種レポート機能支援
  • 欠陥を種類別Sorting可能

Compactな装備サイズ

  • 0603mm装備 : 720*800*1700(W*L*H)
  • 1005mm以上兼用 : 840*870*1750(W*L*H)
  • 一台のPCで検査実施.

検査項目

  • Size測定 : Length, Width, Thickness, Termination bandwidthなど
  • ボディー欠陷 : Chipping, Crack,内部電極露出, Blister, Burst,ピンホール,スクラッチ,表面汚染,変色など
  • 電極欠陷 : 破れ, Miss-Plating,ピンホール,スクラッチ, Smear, Existence,表面汚染など
  • 欠陥のイメージ
     

MCIS-1800N の改善点

 

装備写真

 

仕様

 

Items

Specification  

適用製品

MLCC, MLCI, ChipR, PTCC, Varister, thermistor, Array 등

チップサイズ

0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 4532mm 등

検査項目

チップサイズ,電極サイズ,クラック, chipping,異物,変色,マーキング,ピンホール, Spotなど

検査面

2面/4面/6面

Throughput

0603mm : 1700~1800個/分
1005mm : 1800~1900個/分
1608mm : 1700~1800個/分
2012/3216mm : 1400~1500個/分

精密度

高解像度、最大85個以上のパラメータが1sideに適用される

ハードウェア

照明

4~8チャンネル自動制御LED照明モジュール(1チャンネルに最大4色の照明使用可能)

カメラ

Progressive Area Scan CCD

PC

Industrial PC

Hopper

2000cc

Feeder

Bowl and Linear feeder

排出部

精密な排出ができるAir system

Chip size changeable

2 near size

ソフトウェア

Calibration機能

Self test & Setting system

検査機能

Calibration, Teaching and inspection. 1sideに最大85個以上のパラメーター適用 ヒストリー保存,リアルタイムパラメーター修正可能 SPCレポート機能 自動照明調節&照明セッティング保存可能

診断機能

検査モニタリング、ハードウェアモニタリング、自己診断機能など

その他

大きさ

MCIS-1800 : 840*870*1750(W*D*H)
MCIS-1800N : 720*800*1700(W*D*H)

電源

AC 110/220(1phase), 50/60Hz, Max 2.5KVA

空圧

0.5Mpa 以上