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概要
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MCIS-1800シリーズは弊社の核心技術が集結された最高のVision Inspection装備としてMicro Componentの外観に発生する多様な不良に対して高速/高精密及び高い信頼性を見せる高性能装備である
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特徴点
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早い検査速度を通じる高い生産效率
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- 0603mm
:
1700~1800個/分(MCIS-1800N)
- 1005mm
: 1800~1900個/分
- 1608mm
: 1700~1800個/分
- 2012/3216mm
: 1400~1500個/分
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高精密/高性能検査
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- 高解像度カメラを使った精密検査可能
- 自社開発の特殊検査アルゴリズム適用
- 4面あるいは6面(MCIS-1800six)両方検査可能, 4edgesとTop, Bottomの6面も可能
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検査対象に最適化された構造
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- 検査Chipに最適化された照明開発適用
- 製品方向選別必要の時、特殊なFeeding system適用
- 2 near size Chip兼用可能
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使用者中心のインタフェース
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- 易しいパラメーター設定
- パラメーター別Teaching Help (韓/中/日/英4カ国語)支援
- 検査History保存機能の支援
- パラメーター設定値、照明設定値Save & Load可能
- 各種レポート機能支援
- 欠陥を種類別Sorting可能
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Compactな装備サイズ
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- 0603mm装備 : 720*800*1700(W*L*H)
- 1005mm以上兼用 : 840*870*1750(W*L*H)
- 一台のPCで検査実施.
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検査項目
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- Size測定 : Length, Width, Thickness, Termination bandwidthなど
- ボディー欠陷 : Chipping, Crack,内部電極露出, Blister, Burst,ピンホール,スクラッチ,表面汚染,変色など
- 電極欠陷 : 破れ, Miss-Plating,ピンホール,スクラッチ, Smear, Existence,表面汚染など
- 欠陥のイメージ
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MCIS-1800N の改善点
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装備写真
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仕様
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Items
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Specification
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検
査
能
力
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適用製品
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MLCC,
MLCI,
ChipR,
PTCC,
Varister,
thermistor,
Array
등
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チップサイズ
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0603,
1005,
1608,
2012,
3216,
4532mm
등
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検査項目
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チップサイズ,電極サイズ,クラック, chipping,異物,変色,マーキング,ピンホール, Spotなど
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検査面
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2面/4面/6面
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Throughput
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0603mm
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1700~1800個/分 1005mm
:
1800~1900個/分 1608mm
:
1700~1800個/分 2012/3216mm
:
1400~1500個/分
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精密度
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高解像度、最大85個以上のパラメータが1sideに適用される
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ハードウェア
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照明
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4~8チャンネル自動制御LED照明モジュール(1チャンネルに最大4色の照明使用可能)
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カメラ
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Progressive
Area
Scan
CCD
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PC
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Industrial
PC
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Hopper
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2000cc
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Feeder
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Bowl
and
Linear
feeder
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排出部
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精密な排出ができるAir system
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Chip
size
changeable
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2
near
size
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ソフトウェア
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Calibration機能
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Self
test
&
Setting
system
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検査機能
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Calibration, Teaching and inspection.
1sideに最大85個以上のパラメーター適用
ヒストリー保存,リアルタイムパラメーター修正可能
SPCレポート機能
自動照明調節&照明セッティング保存可能
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診断機能
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検査モニタリング、ハードウェアモニタリング、自己診断機能など
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その他
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大きさ
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MCIS-1800 : 840*870*1750(W*D*H)
MCIS-1800N : 720*800*1700(W*D*H)
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電源
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AC 110/220(1phase), 50/60Hz, Max 2.5KVA
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空圧
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0.5Mpa 以上
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