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概要
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RTSで開発したMCIS-2800装備は多年間の研究開発とFieldでの経験を縮尺した高速外観検査装備で最高な機構、照明、 Softwareを適用して一分にMax :2800個以上が検査できる装備です.
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- 新しいデザイン
- カメラアップグレード
- Semi-Automatic Slide side door.
- Automatic Safety Sensing device.
- 安定的なイメージ処理の為2台のPC使用
- 製品投入速度の向上
- Index 回転有無の確認Sensor.
- 排出能力のアップグレード
- Monitoring System
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特徴点
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- ガラス板のインデックス方式
- Feederを利用した製品供給
- 不良の型に合わせた照明設計
- 優秀な検査アルゴリズム
- 正確な良品、不良排出
- 生産性 : 3000 EA/ Min(1005基準) (Max : 4000 EA/ Min)
- ユニックな排出口とSolenoid採択.
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内部構成特徴
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▶
Compact
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- Rotating
one
glass
table
- Each
one
good
,
bad,
retest
bin
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▶
Flexible
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- Automatic
Calibration
of
Ejector
and
Camera
position
- Records
and
reports
pass/fail
result
for
review
- Programmable
Detection
Logic
- Functional
Parameter
Set-up
- Teaching
Help
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▶
User
Friendly
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- History
Running
Mode
:
4
sides
images
display
- Programmable(easy)
illumination
control
- Easy-to-operation
&
Easy-to-maintenances
- SPC
Mode
,
MISC
Mode
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Application
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- MLCC, MLCI, Chip-R Array, Varistor, Antenna Chip, Coil- Inductor, LTCC,
Chip-LED, Array, PTC, Filter,
Power-Inductor and Various Ceramic/Micro
Components
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Inspects
"Micro"
sized
parts
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- 0603,
1005,
2012,
3216,...mm(0201,
0402,
0603,
0805,
1206,..inch)
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▶
High
Speed
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- Inspects
and
rejects
at 3000
chips/min.(3000
chips/min.
for
1005)
- 4
sides
inspection
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Size
Changeable
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- Two
near
sizes
(1005/1608,
1608/2012,
2012/3216)
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検査項目
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- サイズ検査
Length,
Width,
Thickness,
Termination
bandwidth
- Body検査
Chips,
Crack,
Internal
electrode
exposure,
Blister,
Burst,
Pin
Hole,
Scratches,
Surface
contamination,
Discoloratio
- 電極検査
Brokenness,
Miss-plating,
Holes,
Scratches,
Smears,
Existence,
Surface
contamination
- 欠陥のイメージ
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Soft-ware
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顧客中心の新しいOperation配置
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- プログラムで装備を制御
- グラプ支援機能
- Data保存機能アップ
- INI Fileメイン画面で修正可能
- 早い処理速度
- High Speed Imaging processing
- PCを利用した装備制御
- やさしいパラメータSetting.
- Error Messageを利用して装備状態を点検
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