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12
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500만불 수출탑 수상
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10
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성남중소벤처대상 수상
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04
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향남사업장 준공
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03
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산업자원부 장관상 수상
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10
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중국 상해 사무소 개설
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07
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향남 사업장 기공
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04
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싱가폴 사무소 개설
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12
|
중소기업청
지정
벤처기업
인증
획득
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11
|
INNO-Biz
기업
인증
획득
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09
|
산업자원부
장관상
수상
(우수
자본재
개발
유공
기업)
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03
|
ISO
인증
(9001/14001)
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02
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미주
지역
법인
설립
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01
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산업
패밀리
기업
지정
(아주대학교)
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10
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사명변경
(주식회사
바른기술
->주식회사
알티에스)
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10
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액면분할
(5,000원
->
500원)
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06
|
제3차
유상증자
(총
자본금
:
1,584,695,000원)
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05
|
유망중소기업
선정
(산업은행)
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04
|
본사
이전
(성남
쌍용
IT
트윈타워
B동)
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03
|
해외
대리점
개설
(심천,
동관,
일본
전역)
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12
|
중소기업청
지정
벤처기업
인증획득
(신기술기업)
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09
|
유망중소기업선정
(경기도)
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07
|
해외대리점
개설
(중국,상해)
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06
|
해외대리점
개설
(싱가폴
전역)
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02
|
본사
이전
(성남
쌍용
IT
트윈타워
A동)
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12
|
중소기업청
지정
벤처기업
인증획득
(신기술기업)
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12
|
우량기술기업인증
(기술신용보증기금)
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09
|
유망중소기업선정
(중소기업은행)
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12
|
중소기업청
지정
벤처기업
인증획득
(벤처
캐피탈
투자기업)
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11
|
제1차
무상증자
(총
자본금
:
1,441,840,000원)
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10
|
본사
이전
(분당
테크노
파크)
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10
|
제2차
유상증자
(총
자본금
:
514,270,000원
|
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06
|
제1차
유상증자
(총
자본금
:
450,000,000원)
|
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03
|
(주)바른기술
법인전환
(설립자본금
:
100,000,000원)
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12
|
특허취득
(듀얼 전자부품 검사장치에서의 전자부품 분류방법)
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10
|
특허취득
(디지털문자방송(DMB)에 의한 실시간 교통정보 추출방법 및 그 장치)
|
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10
|
특허취득
(패널 상태 검사 장치 및 그 방법)
|
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10
|
특허취득
(패널검사장치)
|
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04
|
특허취득
(듀얼전자부품검사방법)
|
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04
|
특허취득
(듀얼전자부품검사장치)
|
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02
|
특허취득
(듀얼전자부품검사장치에서의 부품 정렬 장치)
|
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02
|
특허취득
(액정표시장치의 휘도보정
장치)
|
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02
|
특허취득
(전자부품검사방법)
|
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12
|
대만
특허취득
(비젼시스템을
이용한
전자부품
검사장치
및
방법)
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10
|
특허취득
(미세정렬
가능한
전자부품
검사장치)
|
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10
|
특허취득
(전자부품
검사장치)
|
|
09
|
특허취득
(액정패널의
가공장치
및
방법)
|
|
09
|
특허취득
(액정패널
에지면의
회귀라인
도입에
의한
에지면
결함의
검사방법)
|
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06
|
특허취득
(반도체
칩
측정장치
및
측정방법)
|
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04
|
특허취득
(비젼시스템을
이용한
전자부품
검사장치)
|
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02
|
특허취득
(반도체칩
검사
방법
및
반도체
칩의
토탈
하이트와
스탠드
오프
측정
방법)
|
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02
|
특허취득
(조명장치)
|
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11
|
Micro
Chip
Inline
System
구축완료
|
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11
|
Lead
Tab
검사장비
개발완료
|
|
09
|
특허등록
(평면표시
패널의
화질검사
방법)
|
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08
|
MCIS-PRO
개발
완료
|
|
07
|
특허등록
(비젼
시스템을
이용한
전자부품
검사장치
및
방법)
|
|
07
|
특허등록
(타이어
코드
검사방법)
|
|
06
|
LCD
Panel
Appearance
검사장치
개발완료
|
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04
|
특허등록
(팬다
프리즘을
이용한
라인
스캔
카메라)
|
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04
|
특허등록
(패널의
연마공정에
사용하는
카메라
모듈)
|
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03
|
특허등록
(LCD패널
제조를
위한
그라인딩
장치
및
그라인딩
공정)
|
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03
|
특허등록
(액정
패널의
에지면
검사방법)
|
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|
|
11
|
OLED
검사
시스템
개발완료
|
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07
|
LCD
Panel
검사장치
개발완료
|
|
05
|
IR
Filter
(카메라모듈)검사장치
개발
완료
|
|
05
|
LCD
Cell
화질
검사
장치
개발
완료
|
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02
|
MCIS-1800
0603
검사
장치개발완료
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
12
|
핸드폰
LCD
Module
외관검사
및
화질
검사장비
개발완료
|
|
10
|
특허등록
(비젼
시스템을
이용한
전자부품
검사장치)
|
|
10
|
MCIS-1800
6면
검사장치
개발
완료
|
|
08
|
BGA
&
LEAD
IC
3D
검사장치
개발
완료
→
Semiconductor
3D/2D
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
12
|
특허등록
(비젼
시스템을
이용한
전자부품
검사방법)
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
11
|
삼성전기와
MCIS-1800
(MLCC
외관
선별기)
개발
계약
체결
|
|
04
|
Micro
Component
Inspection
System
개발
|
|
|
|
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